09:15 〜 09:30
[9a-Z05-1] NdF3薄膜を用いた真空紫外センサの真空アニールによる暗電流値制御
キーワード:薄膜, パルスレーザー堆積法, フッ化物
パルスレーザー堆積法によりNdF3薄膜を作成し、NdF3薄膜の光伝導型検出器における真空アニール処理による暗電流値の制御を評価した。アニール温度による影響、アニール時間による影響それぞれに関する実験を行い、暗電流値の変化とその要因であるアニールによる薄膜の組成変化について発表する。
一般セッション(口頭講演)
6 薄膜・表面 » 6.4 薄膜新材料
09:15 〜 09:30
キーワード:薄膜, パルスレーザー堆積法, フッ化物