2020年第81回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[9a-Z05-1~8] 6.4 薄膜新材料

2020年9月9日(水) 09:15 〜 11:15 Z05

藤原 宏平(東北大)、鈴木 基史(京大)

09:15 〜 09:30

[9a-Z05-1] NdF3薄膜を用いた真空紫外センサの真空アニールによる暗電流値制御

堀内 勇佑1、加藤 誠也1、加藤 智規1、加瀬 征彦2、小野 晋吾1 (1.名工大、2.ウシオ電機)

キーワード:薄膜, パルスレーザー堆積法, フッ化物

パルスレーザー堆積法によりNdF3薄膜を作成し、NdF3薄膜の光伝導型検出器における真空アニール処理による暗電流値の制御を評価した。アニール温度による影響、アニール時間による影響それぞれに関する実験を行い、暗電流値の変化とその要因であるアニールによる薄膜の組成変化について発表する。