14:00 〜 14:15 [12p-D209-2] 50 eVから15 keVの特性X線を用いたナノスケール構造中の精密定量分析を目指したTES型X線マイクロカロリメータの開発 〇(P)林 佑1、紺野 良平1、八木 雄大1、山崎 典子1、満田 和久1、前畑 京介2、原 徹3 (1.ISAS/JAXA、2.九大工、3.物質・材料研究機構)