13:15 〜 13:30 △ [15p-B409-1] Si 光集積回路によるメカレススキャンを用いるLiDAR システムの測距性能評価 〇下垣 哲也1、福島 光瑠1、河崎 朱里1、市川 正1、井上 大介1、山下 達弥1、曽我 峰樹1 (1.豊田中研)