PDF ダウンロード スケジュール 5 いいね! 0 コメント (0) 14:30 〜 15:00 [12p-A307-3] 微分位相コントラストSTEMによる材料界面電磁場解析 〇柴田 直哉1,2 (1.東大総研、2.JFCCナノ構造研) キーワード:電子顕微鏡、電磁場、界面 本講演では、微分位相コントラストSTEM法による材料・デバイスの電磁場分布解析について、現状と展望を議論する。