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[12p-A403-7] 水素処理によるCat-CVD極薄窒化Si膜のパッシベーション性能の改善
キーワード:パッシベーション、Cat-CVD 極薄窒化Si膜、Cat-CVD 水素処理
Cat-CVD極薄窒化Si膜をトンネルパッシベーション膜として使用するため、水素ラジカル処理によりパッシベーション性能を向上させる検討を行った。処理時間の増加と共に、パッシベーション性能が上昇し、その後低下する傾向を確認した。パッシベーション性能の向上は、高温触媒体によるアニール効果と、極薄窒化Si膜を透過した水素ラジカルによる結晶Si表面の未結合手終端と考えらえる。また、昇温し過ぎると、水素脱離によってパッシベーション性能が悪化すると考えられる。