[13a-A305-1~9] 13.5 デバイス／配線／集積化技術

[13a-A305-6] FPGAを用いた物理形成シリコン量子ドット測定

〇高橋 洋貴¹、田代 晃一¹、溝口 来成¹、小寺 哲夫¹ (1.東工大)

キーワード：量子ビット、FPGA

量子ビットデバイスとして比較的長いコヒーレンス時間を持つため注目されているシリコン量子ドットが注目されている。将来の量子ドットの集積化を見据えたとき、目的の量子ドットが他の量子ドットに影響を与えてしまうクロストークといった問題を解決する手段としてFPGAによるフィードバック制御が挙げられる。
本研究ではチャージセンシングの感度向上を目的とした、フィードバック系を設計し動作を確認した。