[13a-PA3-1~35] 6.3 酸化物エレクトロニクス

[13a-PA3-17] 放射光電子分光によるSrTi_1-xV_xO₃薄膜の電子状態解析

〇(M1)神田 龍彦¹、志賀 大亮^1,2、湯川 龍²、長谷川 直人¹、徳永 凌佑¹、保井 晃³、高木 康多³、北村 未歩²、堀場 弘司²、吉松 公平¹、組頭 広志^1,2 (1.東北大多元研、2.KEK物構研、3.高輝度光科学研究センター)

キーワード：強相関電子系、遷移金属酸化物

強相関伝導性酸化物においては、10²³ cm⁻³キャリア密度（n）を持つにもかかわらず、電子の有効質量（m^*）が重いため、プラズマ振動数が可視光以下になる。そのため近年、強相関伝導性酸化物は新たな透明電極材料として期待されている。我々は、この透明電極の性能を制御するパラメータであるn/m^*の値を連続的に制御可能なSrTi_1−xV_xO₃（STVO）に注目した研究展開を進めており、今回はその第一段階として、STVOの電子状態を放射光電子分光により決定したので報告する。