The 67th JSAP Spring Meeting 2020

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13 Semiconductors » 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

[13p-PA4-1~3] 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

Fri. Mar 13, 2020 1:30 PM - 3:30 PM PA4 (PA)

1:30 PM - 3:30 PM

[13p-PA4-1] Trench Patterning of Ge surface by Graphene-Assisted Chemical Etching

〇(M1)Ryo Mikurino1, Ayumi Ogasawara1, Tomoki Hirano1, Kentaro Kawai1, Kazuya Yamamura1, Kenta Arima1 (1.Osaka Univ.)

Keywords:Catalyst assisted chemical etching, nano carbon material, semiconductor surface

我々は,溶液中でグラフェンシートと接触した半導体表面が選択的にエッチングされる,グラフェン・アシストエッチングを見出し,窒素ドーピングや温度制御がエッチング速度に与える影響を調査してきた.今回は,グラフェンシートが発現する化学エッチング機能とフォトリソグラフィー技術を組み合わせて,Ge表面にトレンチ加工を試みた結果について報告する.