2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

15 結晶工学 » 15.4 III-V族窒化物結晶

[13p-PB1-1~29] 15.4 III-V族窒化物結晶

2020年3月13日(金) 16:00 〜 18:00 PB1 (第1体育館)

16:00 〜 18:00

[13p-PB1-12] ホウ素イオン注入による素子分離技術を用いたGaN-マイクロLEDアレイの作製

〇(M1)吉村 太志1、東本 行司1、若原 昭浩1、山根 啓輔1 (1.豊橋技術科学大学)

キーワード:III-V族窒化物半導体、光集積回路

我々の研究室では光通信分野への応用に向けた研究を行っており,小型化かつ駆動回路との一体化可能な平坦なLED構造の検討を進めている.従来の研究では,ホウ素の注入量が1019 cm-3程度の高濃度注入により高抵抗化を実現しているが[1],一般的に高濃度注入では注入後のレジスト剥離が困難であるという問題が生じる.そこで,本研究ではGaN系微細マイクロLEDアレイ作製を念頭に,低濃度ホウ素イオン注入による素子分離の可能性を検討した.