[14a-A205-1~10] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

[14a-A205-1] 機械学習を用いた発光強度プロファイルからの欠陥の電気的特性の推定とイメージマッピング

〇(M1)三田村 和樹¹、沓掛 健太朗²、小島 拓人³、宇佐美 徳隆¹ (1.名大院工、2.理研AIP、3.名大院情報)

キーワード：機械学習、半導体、粒界