2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

[14a-B401-1~11] 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2020年3月14日(土) 09:00 〜 12:00 B401 (2-401)

塩島 謙次(福井大)

10:15 〜 10:30

[14a-B401-6] 常圧で活性化熱処理したMg注入GaN層のホール効果測定

田中 亮1、高島 信也1、上野 勝典1、江戸 雅晴1、堀田 昌宏2、須田 淳2 (1.富士電機、2.名大)

キーワード:窒化ガリウム、イオン注入、ホール効果

常圧で活性化熱処理したMg注入GaN層のホール特性の温度依存性について報告する。Mg注入層には活性化改善のためNを連続注入した。また安定した測定を行うため、p+エピをコンタクト層として用いた。その結果、Mgイオン注入層のp型電導およびホール濃度の温度依存性が明確に確認され、Mg濃度約3E18 cm-3の注入層で、Mg濃度3.9E17 cm-3のp型エピ層と低温側でほぼ同等の特性が得られた。