[14a-PB1-1~12] 3.1 Basic optics and frontier of optics

[14a-PB1-11] Microspectroscopic measurement of transmittance and phase delay of dielectric Si nanopillars

〇Tomoyasu Nagase¹, Tikara Ogawa¹, Naoyuki Yamada¹, Satoshi Ikezawa¹, Kentaro Iwami¹ (1.TUAT)

Keywords:Si nanopillar, transmittance, phase delay

誘電体メタレンズをはじめとするメタサーフェスに用いられるメタ原子であるSiナノ柱の性能評価を行った．測定の結果，位相遅延量は72˚~280˚,透過率は0.08~0.76の間で直径ごとに変化していることを確認した．透過率において、ディップ位置が計算値とほぼ同様となることが確認できた．位相遅延量において直径200 nm以下では計算値と同様の挙動をしていたが，直径210 nm以上では計算値との一致が悪く，この原因の解明と測定方法の改良を行う必要がある．