[14a-PB5-1~14] 6.6 Probe Microscopy

[14a-PB5-3] Extract NC-AFM short-range force and compare with force curves on different tips by bayes inference

〇Zhuo Diao¹, Daiki Katsube², Hayato Yamashita¹, Masayuki Abe¹ (1.Osaka Univ., 2.Nagaoka Univ. Tech.)

Keywords:bayes inference, Atomic force microscope, Force Curve

本研究ではNC-AFMの計測データであるフォースカーブから短距離成分を抽出するを, ベイズ推定を用いて行った結果について報告する. そしてSi(111)-(7x7)のフォースカーブにそれぞれ違う探針を用いる場合ベイズ推定と従来のfitting手法との比較データについても述べる予定である.