14:10 〜 14:40
[14p-A402-3] 高性能 Si 太陽電池モジュールで観測される電圧誘起劣化
キーワード:太陽電池モジュール、結晶シリコン太陽電池、電圧誘起劣化
電圧誘起劣化(PID)は、太陽電池モジュールのAlフレーム-セル間の電位差が原因で発現する性能低下であり、特に大規模太陽光発電所において、その問題が顕在化している。基板にn型Siを用いた太陽電池は、p型Siを用いたものより一般に発電性能が高く、今後の普及拡大が期待されているが、一方で、そのPIDに関する先行研究は少ない。本講演では、著者らがこれまで解明してきたn型結晶Si太陽電池モジュールのPIDについて概説する。