The 67th JSAP Spring Meeting 2020

Presentation information

Oral presentation

17 Nanocarbon Technology » 17.3 Layered materials

[14p-A404-10~19] 17.3 Layered materials

Sat. Mar 14, 2020 4:30 PM - 7:00 PM A404 (6-404)

Moriyama Satoshi(NIMS)

5:45 PM - 6:00 PM

[14p-A404-15] Carrier Concentration Evaluation of MoS2 Using Oil-immersion Raman Spectroscopy

Yuya Oyanagi1, Yusuke Hibino1,3, Ryo Yokogawa1,3, Hitoshi Wakabayashi2, Atushi Ogura1,4 (1.Meiji Univ,, 2.Tokyo Tech., 3.JSPS Research Fellow, 4.Meiji REnewable Energy Lab.)

Keywords:MoS2, Raman Spectroscopy, Sputtering

これまでラマン分光法はMoS2などの二次元層状物質群では一般的に層数評価として用いられてきた。他方、本来ラマン分光法によって得られるスペクトルは各種物性に敏感である。ゆえに層数評価以外にも様々な評価に応用できる。我々は低エネルギー側のE1g振動モードに着目した。本研究では2H-MoS2単結晶を用いてFano効果のキャリア濃度依存性を確認し、その関係性からラマン分光法によるキャリア濃度の評価手法を提案する。