[14p-B409-1~15] 3.8 Optical measurement, instrumentation, and sensor

[14p-B409-5] 40 GHz continuous, precise laser frequency sweep for volume measurement of ²⁸Si sphere

〇Sho Okubo¹, Naoki Kuramoto¹, Hajime Inaba¹ (1.NMIJ, AIST)

Keywords:Laser frequency control, Second harmonic generation

新しいキログラム定義に基づいた高精度な質量測定実現のために、より高い精度でのSi単結晶球の体積測定が求められている。そのためには、これまで用いられてきた波長633 nmより短い波長で数10 GHzの連続掃引が可能な精密広帯域周波数可変レーザーシステムが必要となる。本研究では、EOMで発生したスレーブレーザーのサイドバンドをマスターレーザーに位相同期することで、波長426 nmにおいて40 GHzにわたる連続精密周波数掃引を実現した。