2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.3 絶縁膜技術

[15a-A305-1~13] 13.3 絶縁膜技術

2020年3月15日(日) 09:00 〜 12:30 A305 (6-305)

渡邉 孝信(早大)、喜多 浩之(東大)

09:00 〜 09:15

[15a-A305-1] Si酸化膜中放出Siの理論検討

影島 博之1、矢島 雄司1、白石 賢二2、遠藤 哲郎3 (1.島根大、2.名古屋大、3.東北大)

キーワード:シリコン酸化、第一原理計算

Siを熱酸化すると単にSiが酸素と反応してSiO2が形成されるだけでなく、その際の大きな体積膨張によって誘起される圧縮応力を解放するためにSiがSi酸化膜中に放出される。我々はこの放出Siが酸化膜中では格子間SiOとなっていると考えてきた。今回、Siピラー酸化におけるSiミッシングの研究の過程で行ってきた第一原理分子動力学計算の結果を詳細に解析することで、この考え方を支持する材料を得たので報告する。