[15p-B409-1~7] 3.8 光計測技術・機器

△ [15p-B409-1] Si 光集積回路によるメカレススキャンを用いるLiDAR システムの測距性能評価

〇下垣 哲也¹、福島 光瑠¹、河崎 朱里¹、市川 正¹、井上 大介¹、山下 達弥¹、曽我 峰樹¹ (1.豊田中研)

キーワード：FMCW-LiDAR、光集積回路、シリコンフォトニクス

Si光集積回路を応用してLiDARを軽量小型化し、市販車への搭載性に優れたコスト、サイズ、性能の実現を目指す研究を行っている。小型化と低コスト化の障壁となっているスキャナ部を光集積回路に実装することに成功した。本講演では、FMCW式メカレススキャンLiDARの測距性能を屋外で評価した結果について報告する。