The 82nd JSAP Autumn Meeting 2021

Presentation information

Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.1 X-ray technologies

[10p-N307-1~14] 7.1 X-ray technologies

Fri. Sep 10, 2021 1:30 PM - 5:15 PM N307 (Oral)

Mitsunori Toyoda(Tokyo Polytechnic Univ.), Tadashi Hatano(Tohoku Univ.), Akio Yoneyama(SAGA Light Source)

4:15 PM - 4:30 PM

[10p-N307-11] High Energy X-ray Phase Imaging of Dry Batteries by Talbot-Lau Interferometer with Structured Anode X-ray Source

Kenji Kimura1, Ryosuke Ueda2, Haojie Pan1, Atsushi Momose2 (1.Tohoku Univ., 2.IMRAM Tohoku Univ.)

Keywords:X-ray Phase Imaging, Talbot-Lau Interferometer, High Energy

構造化X線源を用いたTalbot-Lau干渉計による高エネルギーX線位相イメージングを乾電池に適用した。放電前後について、吸収像、微分位相像では認められない明確なコントラストの変化が、散乱像においては認められた。これは電池反応に伴う構造変化が可視化されたものと考えられ、高エネルギーX線位相イメージングが有用であることを示す一例である。発表当日は、詳細な議論とあわせて、CTによる三次元画像についても報告する。