[10p-N307-1~14] 7.1 X線技術

[10p-N307-11] 構造化X線源を用いたTalbot–Lau干渉計による乾電池の高エネルギーX線位相イメージング

〇木村 賢二¹、上田 亮介²、潘 豪傑¹、百生 敦² (1.東北大工、2.東北大多元研)

キーワード：X線位相イメージング、Talbot–Lau干渉計、高エネルギー

構造化X線源を用いたTalbot-Lau干渉計による高エネルギーX線位相イメージングを乾電池に適用した。放電前後について、吸収像、微分位相像では認められない明確なコントラストの変化が、散乱像においては認められた。これは電池反応に伴う構造変化が可視化されたものと考えられ、高エネルギーX線位相イメージングが有用であることを示す一例である。発表当日は、詳細な議論とあわせて、CTによる三次元画像についても報告する。