The 82nd JSAP Autumn Meeting 2021

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.6 Group IV Compound Semiconductors (SiC)

[10p-S202-1~14] 15.6 Group IV Compound Semiconductors (SiC)

Fri. Sep 10, 2021 1:00 PM - 5:00 PM S202 (Oral)

Kazuma Eto(AIST)

1:45 PM - 2:00 PM

[10p-S202-4] Passivation effect on 4H-SiC porous crystals foemed by voltage-controlled anodization

Keita Kodera1, Kosuke Yanai1, Yoma Yamane1, Lu Weifang1, Ou Yiyu2, Motoaki Iwaya1, Tetsuya Takeuchi1, Satishi Kamiyama1 (1.Meijo Univ, 2.Technical University Denmark)

Keywords:SiC, porous

基板表面に微細な孔を有する蛍光SiCはポーラス蛍光SiCと呼ばれ、ポーラス化によりDAP発光の高強度化と短波長化が可能である。ポーラス作製時に基板表面が酸化され発光強度が低下してしまうため、パッシベーション処理により発光強度の回復、およびSiC表面を不活性化させる。本研究では、ポーラス層のエッチング条件を変化させ、そのパッシベーション効果と構造の依存性を調査した。