2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[11p-N304-1~13] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2021年9月11日(土) 13:30 〜 17:00 N304 (口頭)

末益 崇(筑波大)、寺井 慶和(九工大)

13:45 〜 14:00

[11p-N304-2] メッシュ状電極Mg2Si-PDの低温におけるアバランシェ増幅

市川 雄大1、吉田 美沙2、津谷 大樹2、鵜殿 治彦1 (1.茨城大、2.NIMS)

キーワード:半導体、マグネシウムシリサイド、フォトダイオード

我々は安価で大量普及可能なMg2Si- pn接合フォトダイオード(PD)の開発を進めている。最近メッシュ電極Mg2Si PDの感度について検討を進めており、前回は、メッシュ状電極Mg2Si PDに逆バイアスを印加することにより室温でも大幅な受光感度向上ができることを報告した。今回、同メッシュ状電極Mg2Si PDの低温下における感度の逆バイアス依存性を評価したところ、アバランシェ増幅によると見られる顕著な感度の増幅が低温の逆バイアス下で見られたので報告する。