2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[11p-N304-1~13] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2021年9月11日(土) 13:30 〜 17:00 N304 (口頭)

末益 崇(筑波大)、寺井 慶和(九工大)

14:00 〜 14:15

[11p-N304-3] CF4ガスによるMg2Si基板の反応性イオンエッチング特性

中村 陸斗1、吉田 美沙2、津谷 大樹2、鵜殿 治彦1 (1.茨城大院、2.NIMS)

キーワード:マグネシウムシリサイド、フォトダイオード、反応性イオンエッチング

我々は安価に大量生産可能なMg2Si-pn接合フォトダイオード(PD)の開発を進めている。2次元アレイ構造を持つPDを作製するために反応性イオンエッチング(RIE)を用いた微細加工が必要不可欠であり、これまでにSF6とCF4を用いたRIEが可能であることを報告した。今回、CF4でのRIEにおけるエッチング速度のRFパワー依存性とエッチング後の表面状態について評価したので報告する。