2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価

[11p-N305-1~10] 13.7 化合物及びパワーデバイス・プロセス技術・評価

2021年9月11日(土) 13:30 〜 16:15 N305 (口頭)

矢野 裕司(筑波大)

16:00 〜 16:15

[11p-N305-10] 相補型JFETによる高温動作IC設計に向けたSiC JFETのデバイスモデル構築

前田 憲幸1、金子 光顕1、木本 恒暢1 (1.京大院工)

キーワード:炭化ケイ素、接合型電界効果トランジスタ、デバイスモデル

SiC JFETは高温動作ICへの応用が期待されており、我々はCMOS回路のp-/n-MOSFETをp-/n-JFETに置き換えた相補型JFET回路を提案している。実際の回路の作製・設計には、SiC JFETの温度特性を再現するデバイスモデルを用いた回路シミュレーションが必須である。本研究では、本研究室で作製されたSiC JFETの温度特性を再現するデバイスモデルを構築し、その妥当性を評価した。