The 82nd JSAP Autumn Meeting 2021

Presentation information

Oral presentation

13 Semiconductors » 13.7 Compound and power devices, process technology and characterization

[11p-N305-1~10] 13.7 Compound and power devices, process technology and characterization

Sat. Sep 11, 2021 1:30 PM - 4:15 PM N305 (Oral)

Hiroshi Yano(Univ. of Tsukuba)

3:30 PM - 3:45 PM

[11p-N305-8] Output characteristics of SOI-Si/4H-SiC hybrid pixel devices for radiation hardened CMOS image sensors

Tatsuya Meguro1, Masayuki Tsutsumi1, Akinori Takeyama2, Takeshi Ohshima2, Yasunori Tanaka3, Shin-Ichiro Kuroki1 (1.Hiroshima Univ., 2.QST, 3.AIST)

Keywords:SiC, Image sensor, Wafer bonding

原子力発電所の廃炉作業ロボットは、放射線に対して強い耐性が求められる。投入されるロボットは、そのイメージセンサにより稼動時間が制限される。本研究では,従来のイメージセンサの画素が備えるSi-MOSFETを、SiC-MOSFETに置き換えることにより、高い放射線耐性を目指したハイブリッド型画素デバイスの作製と、その特性評価について報告する。