[11p-N403-1~5] 11.4 Analog applications and their related technologies

△ [11p-N403-3] Fabrication and Evaluation of Superconducting Probe for Scanning Tunneling Microscope

〇(M1)Atsushi Ebata¹, Satoshi Ohnishi¹, Takafumi Kanada¹, Kanji Hayashi¹, Saburo Tanaka¹, Seiichiro Ariyoshi¹ (1.Toyohashi Univ. of Technol.)

Keywords:High Superconductor, Probe, Scanning Tunneling Microscope

走査型トンネル顕微鏡（STM）とは鋭く尖った探針（プローブ）を導電性試料の表面に近づけ、微小なトンネル電流を検出する装置である。本研究では、従来の常伝導プローブに換わり、超伝導転移温度が最高93 Kに達するYBa₂Cu₃O_7-δ（YBCO）を用いたプローブを創製することで、次世代STMへ向けた技術的基盤を築くことを目的とした。