[12a-S203-1~9] 6.3 Oxide electronics

△ [12a-S203-6] Soft X-ray Angle-Resolved Photoemission Study on Ti₂O₃ Thin Films

〇(D)Naoto Hasegawa¹, Kohei Yoshimatsu¹, Daisuke Shiga¹, Tatsuhiko Kanda¹, Satoru Miyazaki¹, Miho Kitamura², Koji Horiba², Hiroshi Kumigashira^1,2 (1.IMRAM, Tohoku Univ., 2.IMSS, KEK)

Keywords:titanium oxide, angle-resolved photoemission spectroscopy, metal insulator transition

コランダム型Ti₂O₃は、450 K付近で温度幅の広い金属－絶縁体転移（MIT）を示す。このMITの起源を明らかにするためには、バンド構造の直接観測が不可欠となる。本研究では、平坦かつ清浄な単結晶表面を有するTi₂O₃エピタキシャル薄膜を合成し、その角度分解光電子分光を行うことにより、Ti₂O₃のバンド分散を決定した。