[12p-S101-1~15] FS.1 フォーカストセッション「AIエレクトロニクス」

[12p-S101-6] 電圧駆動MRAMにおける書き込みエラー率の確率分布に関する理論的研究

〇荒井 礼子¹、広渕 崇宏²、今村 裕志¹ (1.産総研新原理、2.産総研デジタルアーキテクチャ)

キーワード：書き込みエラー率、磁性メモリ、確率分布

メモリデバイスはこれまで高い信頼性が必須とされてきたが、深層学習などにおいてビット反転（エラー）耐性があることや、特性の異なるメモリを使い分ける手法の有用性が明らかとなりつつある。しかし、メモリデバイス上での空間的なエラー分布の基礎となるエラー率の確率分布は明らかとなっていない。本研究では、電圧駆動磁性メモリにおいて、加工ばらつきを想定した書き込みエラー率の確率分布に関する理論解析を行った。