2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[12p-S301-1~15] 6.2 カーボン系薄膜

2021年9月12日(日) 14:00 〜 18:00 S301 (口頭)

竹内 大輔(産総研)、山口 尚秀(物材機構)

14:15 〜 14:30

[12p-S301-2] ホウ素濃度の異なるp型(111)基板上に作製したダイヤモンドpinダイオードの発光特性の比較

横田 貴恒1,2、本部 達也1,2、竹内 大輔1,2、牧野 俊晴2、加藤 宙光2、小倉 政彦2、庄司 一郎1 (1.中央大、2.産総研)

キーワード:ダイヤモンド半導体、電子放出、エレクトロルミネッセンス

ダイヤモンドpinダイオードで観測される室温での真空中への電子放出は、p型(111)基板のドープ濃度によって電子放出効率が2桁以上異なる傾向が見られる。そこでキャリアの挙動を調査するため、高濃度p++型基板と低濃度p型基板を用いた二種類のpinダイオードで室温でのエレクトロルミネッセンス測定を行った。この測定の結果と室温でのカソードルミネッセンス測定の結果との比較から、キャリアの拡散状況を論じる。