9:00 AM - 10:40 AM
[22a-P01-1] Noise Reduction by Principal Component Analysis for Local C-V Mapping
Keywords:ferroelectrics, scanning probe microscopy, hafnium oxide
本講演では,主成分分析によるプローブ顕微鏡データのノイズ除去に焦点を当てつつ,局所C-Vマッピング法によるナノスケール強誘電分極反転評価について紹介する.
Poster presentation
6 Thin Films and Surfaces » 6.1 Ferroelectric thin films
Wed. Sep 22, 2021 9:00 AM - 10:40 AM P01 (Poster)
9:00 AM - 10:40 AM
Keywords:ferroelectrics, scanning probe microscopy, hafnium oxide