09:00 〜 10:40
[22a-P01-1] 局所C-Vマッピングにおける主成分分析によるノイズ除去
キーワード:強誘電体、プローブ顕微鏡、酸化ハフニウム
本講演では,主成分分析によるプローブ顕微鏡データのノイズ除去に焦点を当てつつ,局所C-Vマッピング法によるナノスケール強誘電分極反転評価について紹介する.
一般セッション(ポスター講演)
6 薄膜・表面 » 6.1 強誘電体薄膜
2021年9月22日(水) 09:00 〜 10:40 P01 (ポスター)
09:00 〜 10:40
キーワード:強誘電体、プローブ顕微鏡、酸化ハフニウム