11:15 〜 11:30 [16a-Z33-8] 低周波ノイズ分光法を用いた抵抗変化メモリの電子状態評価 〇(M1)菅原 広太1,2、菅 洋志1,2、内藤 泰久1、島 久1、秋永 広幸1 (1.産総研、2.千葉工大)