14:00 〜 14:15 [18p-Z05-3] 光学干渉非接触温度測定法(OICT)を用いたSiC-MOSFET動作時の過渡的内部温度変化の可視化 〇藤本 渓也1、小柳 樹1、佐藤 拓磨1、花房 宏明1、東 清一郎1 (1.広大院先進理工)