11:00 〜 11:15
[16a-Z33-7] 二層型MoOx/Al2O3 CBRAM中のCu移動のTEMその場観察
キーワード:抵抗変化メモリ、TEMその場観察、二層型CBRAM
本研究では、Cu上部電極、TiN下部電極に挟まれたMoOx/Al2O3構造の二層CBRAMに対してTEMその場観察実験(in-situ TEM)を行い、デバイス中のCuの移動、およびAl2O3層の役割について調べた。
一般セッション(口頭講演)
6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス
11:00 〜 11:15
キーワード:抵抗変化メモリ、TEMその場観察、二層型CBRAM