[17a-P08-1~5] 6.6 プローブ顕微鏡

[17a-P08-5] XANAMにより測定したGe量子ドット像のX線エネルギー依存性

〇鈴木 秀士¹、向井 慎吾²、田 旺帝³、野村 昌治⁴、藤森 俊太郎¹、池田 弥央¹、牧原 克典¹、宮﨑 誠一¹、朝倉 清高² (1.名大院工、2.北大触媒研、3.ICU、4.KEK-PF)

キーワード：非接触原子間力顕微鏡、元素分析、ゲルマニウム

試料表面の化学分析をナノスケールで行う手法として、NC-AFMと放射光X線を組み合わせたX線支援非接触原子間力顕微鏡（XANAM）を開発してきた。これまでX線照射下のGe量子ドットを数ナノスケールの空間分解能でイメージングが可能であることを報告した。Ge量子ドット像のX線エネルギー依存性について纏めた結果を報告し、力変化の起源やXANAMの空間分解能について報告する。