[17a-Z08-1~11] 3.8 光計測技術・機器

△ [17a-Z08-2] 外部応力に対するファイバの局所的複屈折変動測定

〇(M1C)武井 菜々子¹、笠 史郎¹ (1.明大先端研)

キーワード：後方散乱光、光計測技術、コヒーレントヘテロダイン検波

我々はレイリー後方散乱光の同相(I)、直交(Q)成分をコヒーレントヘテロダイン検波によって検出し、光ファイバの局所的複屈折を測定する技術について検討を行ってきた。本論文では、光ファイバのある地点に直流電圧をかけ後方散乱光のI,Q成分を測定することにより、局所的な応力印加による瞬時位相変動の直接的な観測を行った結果について報告する。