[18a-P03-1~16] 10 Spintronics and Magnetics(Poster)

[18a-P03-3] Structural analysis of highly L10 ordered FePd epitaxial film by scanning transmission electron microscopy

〇(PC)MASAHIKO NISHIJIMA¹, HIROSHI NAGANUMA^2,3,4,5 (1.The EMC, Tohoku Univ., 2.Tohoku Univ., 3.CSIS, 4.CSRN, 5.CIES)

Keywords:FePd, STEM

高L1₀規則度（～0.9)を有するFePdエピタキシャル膜をスパッタ法によりSrTiO₃基板上に作製し、走査透過型電子顕微鏡（STEM)により断面の極微構造を観察した。その結果、高いL10規則度を有している多くの領域と合わせて、膜表面から斜めに転位、およびSrTiO₃基板とFePd界面ではc軸が面ない方向を向いている界面層が１～2単位格子の厚さ分だけ形成されている事がわかった。このような極微構造の乱れは高L10規則度のFePd膜において、低い残留磁化比の原因となっている事が示唆された。