[18a-P03-1~16] 10 スピントロニクス・マグネティクス(ポスター)

[18a-P03-3] 走査透過型電子顕微鏡を用いた高L1₀規則度を有するFePdエピタキシャル膜の極微構造観察

〇(PC)西嶋 雅彦¹、永沼 博^2,3,4,5 (1.東北大先端電顕センター、2.東北大工、3.CSIS、4.SCRN、5.CIES)

キーワード：FePd、走査透過型電子顕微鏡

高L1₀規則度（～0.9)を有するFePdエピタキシャル膜をスパッタ法によりSrTiO₃基板上に作製し、走査透過型電子顕微鏡（STEM)により断面の極微構造を観察した。その結果、高いL10規則度を有している多くの領域と合わせて、膜表面から斜めに転位、およびSrTiO₃基板とFePd界面ではc軸が面ない方向を向いている界面層が１～2単位格子の厚さ分だけ形成されている事がわかった。このような極微構造の乱れは高L10規則度のFePd膜において、低い残留磁化比の原因となっている事が示唆された。