[18a-Z08-1~11] 3.12 Nanoscale optical science and near-field optics

[18a-Z08-7] Direct Observation of zirconium nitride hot carriers by Kelvin Probe Force Microscope

〇Satoshi Ishii^1,2,3, Min-Wen Yu^1,4, Shinde Satish^1,2, Tanjaya Kevin^1,2, Kuo-Ping Chen⁴, Tadaaki Nagao^1,5 (1.NIMS, 2.Univ. of Tsukuba, 3.JST-PRESTO, 4.National Chiao Tung Univ., 5.Hokkaido Univ.)

Keywords:hot carrier, transition metal nitride, surface plasmon

ケルビンプローブ顕微鏡(KPFM)と光源を組合わせることで、光照射による光励起電荷をナノスケールで観測することができる。本研究ではKPFMを使った測定により、金属的特性を持つ窒化ジルコニウムがホットホールをp型半導体に、ホットエレクトロンをn型半導体にそれぞれ電荷注入できることを実証した。