[18a-Z14-1~11] 7.1 X-ray technologies

[18a-Z14-8] High Energy X-ray Phase Imaging Using Talbot-Lau Interferometer with Structured Anode X-ray Source

〇Kenji Kimura¹, Mengran Sun¹, Ryosuke Ueda², Haojie Pan¹, Atsushi Momose² (1.Tohoku Univ., 2.IMRAM Tohoku Univ.)

Keywords:X-ray phase imaging, Structured Anode X-ray Source, High Energy

厚みの大きい物質や金属を含む物体に対してTalbot-Lau干渉計を用いたX線位相イメージングを考える際、透過力の大きい高エネルギーのX線が求められる。このような場合、極めて高いアスペクト比を有する格子を作成する必要が発生するが、そのような格子の作成は現状の微細加工技術では困難である。そこで我々は構造化X線源を用いた高エネルギーX線位相イメージング装置を開発した。本発表では当該装置を用いた結果を報告する。