[18p-Z21-1~14] 12.6 Nanobiotechnology

[18p-Z21-4] Curvature dependence of AFM probe tip in the force measurement of plant cell

〇Yuki Yamasaki¹, Satoru Tsugawa², Ito Kenshiro¹, Kazunori Okano¹, Ryohei Yasukuni¹, Kenichi Kawaguchi³, Taku Demura², Yoichiroh Hosokawa¹ (1.Div. Sci. NAIST, 2.Div. Bio. NAIST, 3.IIS. Univ. Tokyo)

Keywords:Plant cell, Atomic force microscopy, mechanosensing

原子間力顕微鏡（AFM）は細胞表面の形状や物性を測定する手法として近年注目されている。特に、探針で試料を押し込み、斥力を計測したフォースカーブから得られる弾性率は、細胞の力学状態を数値化する有効な手段である。しかしながらこの測定結果の評価は、試料と探針の接触の関係に大きく依存し、植物細胞のような不均一な構造をもつ試料に対しては、その解析方法が未だ確立されていない。我々は、先端曲率の異なるAFM探針を用いて植物細胞のAFM計測を行い、試料への探針の接触がフォースカーブに与える影響について調べ、その解析方法について検討した