[21p-C206-1~13] 7.1 X線技術

[21p-C206-9] 佐賀LSにおける形状可変結晶を用いたDXAFSの試み

〇米山 明男¹、瀬戸山 寛之¹、河本 正秀¹、一井 愛雄² (1.佐賀LS、2.JTEC Corp.)

キーワード：XAFS、DXAFS、形状可変結晶

佐賀LSでは、Ｘ線吸収スペクトルのワンショット計測を目的として、圧電素子により湾曲結晶の形状を調整できる「形状可変結晶」機構を用いたEnergy Dispersive XAFS（DXAFS）計測系の構築を進めている。これまでに７０ミクロンに集光した白色放射光を用いて、露光時間10msでZr等のスペクトルを取得できることを確認した。