[21p-P09-1~10] 9.4 熱電変換

[21p-P09-9] Cu₇Ti_xV_1−xSnS₈の熱的安定性と熱電物性

〇香西 秀哉¹、末國 晃一郎¹、高橋 聖弥²、西堀 英治²、SAUERSCHNIG Philipp³、太田 道広³、大瀧 倫卓¹ (1.九大院総理工、2.筑波大数理、3.産総研GZR)

キーワード：熱電変換材料、硫化物、半導体

我々は最近，閃亜鉛鉱型派生の結晶構造を有する半導体Cu₇VSnS₈を見出し，V⁵⁺をTi⁴⁺で置換してホールキャリア濃度を高めると673 KでのZTが0.6–0.7に達することを明らかにした。その置換系の電気抵抗率とゼーベック係数は，450 K以上で温度係数が急激に増大し，また，昇温過程と降温過程で400–673 Kにヒステリシスを示した。本研究では，それらの振る舞いの原因を熱電物性測定と熱重量・示差熱分析および粉末X線回折から調べた。