[22a-A102-1~11] 13.5 デバイス／配線／集積化技術

△ [22a-A102-7] RF反射測定の性能向上に向けた量子ドットのSパラメータ測定と整合回路の設計

〇(M1)松田 凌¹、神岡 純¹、溝口 来成¹、米田 淳¹、小寺 哲夫¹ (1.東工大工)

キーワード：RF反射測定、量子コンピュータ、シリコンスピン量子ビット

高性能なシリコンスピン量子コンピュータの実現には、スピンの高速かつ高感度な読み出しが必要である。そのため本研究では、有望な読み出し技術の1つであるRF反射測定における最適な整合回路を設計した。まず電荷計量子ドットの極低温下でのSパラメータ測定を行い、その結果を基に多段整合回路を設計した。以上の手順により、広帯域なインピーダンス整合を実現し、RF反射測定における帯域と感度の両立が改善しうることを示した。