[22a-A306-1~9] 11.4 Analog applications and their related technologies

△ [22a-A306-2] Characterization of superconducting probes for scanning tunneling microscopy

〇Atsushi Ebata¹, Baku Ohnishi¹, Satoshi Ohnishi¹, Takafumi Kanada¹, Kanji Hayashi¹, Yuji Miyato², Saburo Tanaka¹, Nobuya Hiroshiba³, Seiichiro Ariyoshi¹ (1.Toyohashi Univ. of Technol., 2.Ryukoku Univ., 3.Osaka Inst. of Tech.)

Keywords:high temperature superconductor, Scanning Tunneling Microscopy, probe

走査型トンネル顕微鏡（STM）とは鋭く尖った探針（プローブ）を導電性試料の表面に近づけ、微小なトンネル電流を検出する装置である。本研究では、従来の常伝導プローブに換わり、超伝導転移温度が最高93 Kに達するYBa₂Cu₃O_7-δ（YBCO）を用いたプローブを創製することで、次世代STMへ向けた技術的基盤を築くことを目的とした。