[22a-P03-1~11] 6.6 Probe Microscopy

[22a-P03-7] Measurement of local work function by voltage pulse scanning probe microscopy

〇Hibiki Hikasa¹, Emiko Murata¹, Daiki Katsube², Masayuki Abe³, Eiichi Inami¹ (1.Kochi Univ. Tech, 2.RIKEN, 3.Osaka Univ.)

Keywords:scanning probe microscopy, work function

仕事関数は、固体表面/界面の電子挙動を支配する基本的な量であると同時に、ディスプレイや太陽電池をはじめ、様々な電子/光電子デバイスの特性を左右する応用上重要な量でもある。本研究では、走査トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡の原理を応用して、表面の局所仕事関数を直接かつ定量的に計測可能な手法(パルス走査プローブ顕微鏡法)を提案する。