[22p-B104-1~14] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

[22p-B104-5] Charge carrier dynamics and exciton-polaron quenching studied by DCM-PL technique

Kaito Ninomiya¹, Katsuya Sato², 〇Yutaka Noguchi^1,2 (1.GSST, Meiji Univ., 2.SST, Meiji Univ.)

Keywords:charge accumulation, exciton-polaron quenching, displacement current measurement

有機EL素子界面の電荷蓄積は、励起子消光（EPQ）や素子劣化の要因となる。したがって、界面における電荷蓄積挙動とEPQの相関を正確に理解し制御することは、素子特性向上に向け重要な課題となる。本研究では、有機EL素子界面の電荷蓄積挙動とEPQとの相関を解析する手法として変位電流とPL強度の同時測定法（DCM-PL）を提案し、Ir(ppy)₃を発光材料に用いたモデル素子に適用した結果を報告する。