Characterization of LO Radiation Intensity by Metal- GaAs Surface Micro-Structural Configuration

講演情報

一般セッション(口頭講演)

22 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」 » 22.1 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」

2022年9月22日(木) 13:30 〜 18:00 C102 (C102)

17:00 〜 17:15

〇(D)Hnin LaiLai Aye¹、Bojin Lin¹、Haruki Orito¹、Ikuya Suzuki¹、Bei Ma¹、Yoshihiro Ishitani¹ (1.Chiba Univ.)

キーワード：LO phonon, Thermal emission, Micro-scale stripe structures