The 83rd JSAP Autumn Meeting 2022

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.4 III-V-group nitride crystals

[22p-C200-1~15] 15.4 III-V-group nitride crystals

Thu. Sep 22, 2022 1:30 PM - 6:00 PM C200 (C200)

Motoaki Iwaya(Meijo Univ.), Yoshio Honda(Nagoya Univ.), Maki Kushimoto(Nagoya Univ.)

1:45 PM - 2:00 PM

[22p-C200-2] AlN mole fraction dependence of contact resistance in p-AlGaN layer

〇(M1)Hayata Takahata1, Tomoaki Kachi1, Rie Iwatsuki1, Hisanori Ishiguro1, Satoshi Kamiyama1, Tetsuya Takeuchi1, Motoaki Iwaya1, Kengo Nagata2, Koji Okuno2, Yoshiki Saito2 (1.Meijo Univ., 2.TOYOTA GOSEI Co.Ltd)

Keywords:AlGaN, p-AlGaN

深紫外LEDのエネルギー変換効率は一般的に2~4%と低い。p-GaNコンタクト層に代わり光吸収が少ないp-AlGaNコンタクト層を用いた深紫外LEDが報告がされている 。一方で、p-AlGaNコンタクト層のコンタクト抵抗を導出した報告は少なく、今回、p-AlGaN層コンタクト抵抗のAlNモル分率依存性を検討した。AlNモル分率上昇に伴い、コンタクト抵抗は指数関数的に上昇した。ゆえに、コンタクト層における光吸収量も鑑みたAlNモル分率の決定が重要になる。