[22p-M206-1~16] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

[22p-M206-15] 並列モンテカルロ法の全反射高速陽電子回折(TRHEPD)実験への適用 -ベイズ事後確率分布の解析-

〇星 健夫^1,2、岩本 晴道¹、木下 直希¹、寺地 雄真¹ (1.鳥取大工、2.KEK物構研低速陽電子)

キーワード：超並列モンテカルロ法、全反射高速陽電子回折実験(TRHEPD)、ベイズ事後確率分布

近年我々が開発している計測データ解析フレームワーク2DMATを用いて，並列モンテカルロ法（ベイズ事後確率分布計算）を，全反射高速陽電子回折(TRHEPD)実験へ応用した．手法テスト系として，スーパーコンピュータ富岳を用いて，Ge(001)-c4x2表面構造の構造解析（原子座標決定）を取り上げた．特に，高次元データ空間における複数解を持ったベイズ事後確率分布を，主成分分析などを用いて解析したので，報告する．